型號(hào):Phenom ProX |
詳細(xì)描述 |
是Phenom(飛納)第三代產(chǎn)品,結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜EDS功能,能譜儀 EDS的可以準(zhǔn)確的進(jìn)行樣品表面元素的定性和定量分析。
產(chǎn)品儀器參數(shù): 放大倍數(shù):20X-100,000X 分辨率:優(yōu)于17nm 電子槍?zhuān)?span>1500小時(shí)CeB6燈絲 抽真空時(shí)間:15秒以?xún)?nèi) 樣品移動(dòng)方式:自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái) 樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航 樣品導(dǎo)電性要求:無(wú)需噴金,直接觀測(cè)絕緣體 加速電壓:5-15kV 連續(xù)可調(diào) 能譜儀EDS元素分析范圍: 5~92號(hào)元素 拓展功能:顆粒分析系統(tǒng)、3D粗糙度、纖維統(tǒng)計(jì)測(cè)量、孔徑測(cè)量系統(tǒng)、高倍拼圖等 環(huán)境掃描選件(ESEM):溫控樣品臺(tái),可直接觀測(cè)液體 |