型號:Phenom Pro
詳細描述
一款性能和價格介于光學顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟型臺式掃描電鏡,可用于測量亞微米尺寸的樣品。Phenom Pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
放大倍數(shù):20×-20,000×
分辨率:優(yōu)于30nm
電子槍:1500小時CeB6燈絲
抽真空時間:15秒以內(nèi)
樣品移動方式:自動馬達樣品臺
樣品定位方式:光學和低倍電子雙重導航
樣品導電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體
拓展功能:顆粒分析系統(tǒng)、3D粗糙度測量、纖維系統(tǒng)測量、孔徑測量系統(tǒng)等
環(huán)境掃描選件(ESEM):溫控樣品臺,可直接觀測液體