型號(hào):SIGMA |
詳細(xì)描述 |
GEMINI 鏡筒的設(shè)計(jì)可提供超低電壓成像和穩(wěn)定性。SIGMA 能識(shí)別小至 1.5 nm 的微細(xì)結(jié)構(gòu)。而 SIGMA HD 則可進(jìn)一步提高分辨率至 1.0 nm。 SmartSEM 軟件具有圖像導(dǎo)航功能,借助數(shù)字概覽圖像完成樣品在樣品倉內(nèi)的導(dǎo)航、定向和定位。使用 SmartBrowse 查看圖像及其相關(guān)分析數(shù)據(jù)。 通過在 SIGMA HD 分析樣品室上安裝雙 EDS 探測(cè)器來提高效率。快速、精準(zhǔn)的 X 射線能譜儀。 SIGMA HD 實(shí)現(xiàn)了分析型場發(fā)射掃描電鏡的高清晰成像。新型的低電壓優(yōu)化背散射探測(cè)器 HD BSD,能夠在低加速電壓(750V 至 3kV)和低探針電流下對(duì)樣品成像。新型 HD BSD 還可在 30kV 電壓下成像,堪稱業(yè)界一流。 SIGMA HD 將大幅圖像幀存儲(chǔ)與高速電子束掃描相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)在高分辨率大視野下(12K x 9K)的快速元素(50ns/像素)定量分析。樣品室還能夠同時(shí)連接兩個(gè)相對(duì)的 EDS 探測(cè)器,均可實(shí)現(xiàn)最大固定角度探測(cè)。針對(duì)電子束敏感樣品,雙 EDS 設(shè)置能在使用高 X 射線計(jì)數(shù)率的情況下同時(shí)保持低探針電流。 |