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FEI“Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
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FEI“Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

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重量:0.00KG
產(chǎn)品描述

型號(hào):Nova NanoSEM 50

詳細(xì)描述

Nova 系列掃描電子顯微鏡 (SEM) 具有低真空功能,是滿足研究實(shí)驗(yàn)室、半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室和制造工廠、生物和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室及其他行業(yè)各種成像、分析和樣品制備需求的理想之選。 Nova 系統(tǒng)包含 EBIC、冷凍樣品臺(tái)、STEM、EDS、WDS EBSD。

技術(shù)參數(shù):

分辨率 高真空

30 kV (STEM)

15 kV (TLD)

1 kV (TLD、無(wú) BD)

100 V (DBS)

15 kV, 5 nA

0.8 nm

1.0 nm

1.4 nm

3.5 nm

3.0 nm

分辨率 低真空

3 kV 30 Pa (Helix)

10 kV

1.8 nm

1.5 nm

射束電流

高達(dá) 200 nA

著陸電壓范圍

50 V - 30 kV

樣品臺(tái)

X x Y x Z (mm)

110 x 110 x 25

150 x 150 x 10

機(jī)室

大試件室

探測(cè)

透鏡內(nèi)

透鏡下、大角度探測(cè)器

TLD SE BSE

高靈敏度 DBS (SE/BSE)



主要特點(diǎn):

? 場(chǎng)發(fā)射 SEM、超穩(wěn)定高電流 Schottky 電子槍

? 先進(jìn)的光學(xué)和探測(cè)技術(shù),包括沉浸模式、射束減速、透鏡內(nèi) TLD-SE TLD–BSE、DBS STEM,可實(shí)現(xiàn)最佳信息選擇和圖像優(yōu)化

? 低至 50 V 的射束著陸能量

? 1.4 nm @ 1 kV、無(wú)射束減速

? 全球唯一真正高分辨率的低真空 FESEM 1.8 nm @ 3 kV 30 Pa

? 高達(dá) 200 nA 的高真空或低真空分析

? 整合式 16 位掃描/制圖引擎

? 超潔凈、無(wú)油滾動(dòng)和渦輪抽氣真空系統(tǒng)

? 150 x 150 mm 高精密、高穩(wěn)定壓電樣品臺(tái) (Nova NanoSEM 650)