型號:Axio Imager 2 |
詳細描述 |
產品特點: 具有超高對比度和分辨率的出色光學系統 模塊化主機設計,利用一系列電動和編碼組件增強靈活度 穩(wěn)定的主機和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結果的可重復性 使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進行升級。 在關聯顯微系統的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2 在質量檢驗和流程控制中,自動化功能可確保重復檢測結果的精確度。 研究和檢測不同材料。分析金屬結構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。 多種觀察方式可供選擇,以獲得更多豐富的信息。使用反射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、偏光或圓偏光下檢測樣品。 觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設置可復制。 |