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詳細(xì)描述

X射線顯微分析是一種在電子顯微鏡中經(jīng)常用到的測量固體樣品、薄膜、微?；瘜W(xué)成分的分析技術(shù)。該技術(shù)應(yīng)用一種能量色散X射線光譜儀(EDS)能同時(shí)探測和分析低至Be的所有元素。該技術(shù)從一個微米級的樣品區(qū)域獲得元素信息，提供低至0.1%質(zhì)量百分?jǐn)?shù)的檢出限，這些特性使得X射線顯微分析成為最靈敏的分析方法之一。

布魯克電制冷能譜儀獨(dú)一無二的X-Flash? 硅漂移探測器(SDD)與頂級的Hybrid 脈沖處理技術(shù)相結(jié)合能獲得最佳的能量分辨率和比常規(guī)Si(Li)探測器快十倍的測量速度。

布魯克電制冷能譜儀配有界面友好、功能強(qiáng)大的ESPRIT軟件。該軟件標(biāo)配中、英文界面。應(yīng)用該軟件可進(jìn)行無標(biāo)樣定量分析，和有標(biāo)準(zhǔn)定量分析，或二種方法結(jié)合使用。另外，還可進(jìn)行點(diǎn)、線、面分析，線掃描，面分布，超級面分布，相分析，顆粒分析，鋼鐵分析，槍擊殘留物分析等等。

QUANTAX ESPRIT軟件包：

直觀的圖形用戶界面顯示了所有對分析者而言重要的信息，分析人員一目了然，并可以立即進(jìn)入最常用的功能。

簡單的操作理念和直觀的向?qū)?，集成?span> "助手"功能，完整的在線幫助，使初學(xué)者能很快熟悉分析系統(tǒng)。

該軟件交互式、循序漸進(jìn)式的譜圖評價(jià)程序?qū)Ψ治稣叨杂绕渲匾?，尤其是對于非常?fù)雜的分析任務(wù)來說。

而且，該軟件包集成了全球最新修訂擴(kuò)展的原子數(shù)據(jù)庫，一些重要的基本參數(shù)有助于提高定性和定量分析的精度。

該分析軟件的高效性、靈活性和透明性使用戶能很快信服并對之滿意。

技術(shù)參數(shù)：

QUANTAX系列探測器種類：X-Flash? SDD硅漂移探測器

X-Flash SDD硅漂移探測器―――開創(chuàng)一個新紀(jì)元

* 具有無液氮、高分辨率、高輸出計(jì)數(shù)率三大特點(diǎn)。

* X-Flash? 是首個商用的SDD探測器，布魯克ASX公司是SDD技術(shù)領(lǐng)域的領(lǐng)跑者，現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展到第五代，目前在世界范圍內(nèi)擁有大量的用戶。

* 采用二級Peltier效應(yīng)的電致冷方式保證探測器長期穩(wěn)定工作，而不需要任何制冷劑和外部制冷設(shè)備，同時(shí)也避免了其他機(jī)械制冷方式可能引起的振動。

* X-Flash? 的能量分辨率指標(biāo)在1000cps~100,000cps的輸入計(jì)數(shù)率條件下，可以保持在Mn元素Ka分辨率≤123eV，F元素分辨率≤54eV，C元素分辨率≤46eV，這一革命性的123eV分辨率使X-Flash? SDD探測器在輕元素的探測和定量分析方面具有顯著的優(yōu)勢。

* 即使是在非常高的輸入計(jì)數(shù)率情況下，X-Flash? 仍然具有很高的分辨率，因此在進(jìn)行面掃描時(shí)，采用X-Flash? 比采用常規(guī)的Si(Li)探測器節(jié)省幾個量級的時(shí)間。

* 絕對無振動，具有低的維護(hù)和操作費(fèi)用，體積小、重量輕。

* 采用混合脈沖信號處理器使得本系統(tǒng)可處理更高的計(jì)數(shù)率。最大輸入計(jì)數(shù)率達(dá)1000,000cps，最大輸出計(jì)數(shù)率達(dá)400,000cps。

ESPRIT分析軟件界面友好，操作簡便

* 具有包含XPP特例的P/B(ZAF)方法的無標(biāo)樣定量分析功能可對粗糙、顆粒等不同表面形貌樣品進(jìn)行精確的定性定量分析。

* ESPRIT分析軟件具有最豐富的原子信息數(shù)據(jù)庫，這可以大大提高儀器的元素鑒別能力和重疊峰剝離能力，使得定量分析變得更加精確可靠。

* 根據(jù)韌致輻射的物理模型計(jì)算背底，OLeQ分析功能可大大提高輕元素定量分析的準(zhǔn)確性。

* 提供更快速和準(zhǔn)確的實(shí)時(shí)線掃描和面掃描分析功能，對元素種類和數(shù)目無限制并可達(dá)到65536種顏色的面掃描效果。

QUANTAX系列探測器的接口是針對每一款電鏡單獨(dú)定制的，因此可以適用于各種型號和品牌的SEM、TEM、EPMA、AES等，并且能夠達(dá)到最優(yōu)化的立體角和檢出角。