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型號：Phenom Pro

詳細(xì)描述

一款性能和價(jià)格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡，可用于測量亞微米尺寸的樣品。Phenom  Pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

放大倍數(shù)：20×-20,000×

分辨率：優(yōu)于30nm

電子槍：1500小時(shí)CeB6燈絲

抽真空時(shí)間：15秒以內(nèi)

樣品移動(dòng)方式：自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)

樣品定位方式：光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航

樣品導(dǎo)電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體

拓展功能：顆粒分析系統(tǒng)、3D粗糙度測量、纖維系統(tǒng)測量、孔徑測量系統(tǒng)等

環(huán)境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺(tái)，可直接觀測液體