詳細(xì)描述 |
X射線顯微分析是一種在電子顯微鏡中經(jīng)常用到的測(cè)量固體樣品、薄膜、微粒化學(xué)成分的分析技術(shù)。該技術(shù)應(yīng)用一種能量色散X射線光譜儀(EDS)能同時(shí)探測(cè)和分析低至Be的所有元素。該技術(shù)從一個(gè)微米級(jí)的樣品區(qū)域獲得元素信息,提供低至0.1%質(zhì)量百分?jǐn)?shù)的檢出限,這些特性使得X射線顯微分析成為最靈敏的分析方法之一。 布魯克電制冷能譜儀獨(dú)一無二的X-Flash? 硅漂移探測(cè)器(SDD)與頂級(jí)的Hybrid 脈沖處理技術(shù)相結(jié)合能獲得最佳的能量分辨率和比常規(guī)Si(Li)探測(cè)器快十倍的測(cè)量速度。 布魯克電制冷能譜儀配有界面友好、功能強(qiáng)大的ESPRIT軟件。該軟件標(biāo)配中、英文界面。應(yīng)用該軟件可進(jìn)行無標(biāo)樣定量分析,和有標(biāo)準(zhǔn)定量分析,或二種方法結(jié)合使用。另外,還可進(jìn)行點(diǎn)、線、面分析,線掃描,面分布,超級(jí)面分布,相分析,顆粒分析,鋼鐵分析,槍擊殘留物分析等等。
QUANTAX ESPRIT軟件包: 直觀的圖形用戶界面顯示了所有對(duì)分析者而言重要的信息,分析人員一目了然,并可以立即進(jìn)入最常用的功能。 簡(jiǎn)單的操作理念和直觀的向?qū)В傻?span> "助手"功能,完整的在線幫助,使初學(xué)者能很快熟悉分析系統(tǒng)。 該軟件交互式、循序漸進(jìn)式的譜圖評(píng)價(jià)程序?qū)Ψ治稣叨杂绕渲匾绕涫菍?duì)于非常復(fù)雜的分析任務(wù)來說。 而且,該軟件包集成了全球最新修訂擴(kuò)展的原子數(shù)據(jù)庫,一些重要的基本參數(shù)有助于提高定性和定量分析的精度。 該分析軟件的高效性、靈活性和透明性使用戶能很快信服并對(duì)之滿意。
技術(shù)參數(shù): QUANTAX系列探測(cè)器種類:X-Flash? SDD硅漂移探測(cè)器 X-Flash SDD硅漂移探測(cè)器―――開創(chuàng)一個(gè)新紀(jì)元
ESPRIT分析軟件界面友好,操作簡(jiǎn)便
QUANTAX系列探測(cè)器的接口是針對(duì)每一款電鏡單獨(dú)定制的,因此可以適用于各種型號(hào)和品牌的SEM、TEM、EPMA、AES等,并且能夠達(dá)到最優(yōu)化的立體角和檢出角。 |
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