概述
溫金屬套管標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)
l 范圍可達(dá)鋁點(diǎn) (660 °C)
l nconel? 及鉑外殼可防止污染
l 漂移小于 8 mK/年
l 包含基于固定點(diǎn)的眾多可選校準(zhǔn)
l 具有屏蔽地線
由福祿克設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)因其可靠性和長(zhǎng)期漂移而聞名。這類標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì) 已經(jīng)過國家級(jí)(以及其他主要)實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn),并經(jīng)過反復(fù)證實(shí),確認(rèn)為同類競(jìng)爭(zhēng)型號(hào)中性能好的一種。如今,Fluke Calibration 的 5699金屬套管標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì) 結(jié)合了由福祿克設(shè)計(jì)的、采用了防護(hù)外殼材料的傳感器的所有優(yōu)點(diǎn),使得您的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)能夠用于溫度高達(dá) 670 °C 的任何校驗(yàn)爐或恒溫槽。
產(chǎn)品綜述
5699 內(nèi)的無應(yīng)力傳感元件由我們基標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量學(xué)家設(shè)計(jì)和制造,該元件符合針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)的所有 ITS-90 要求,而且能將長(zhǎng)期漂移降低。
1 年的常規(guī)使用后,漂移小于 0.008 °C(典型情況下 < 0.003 °C)。根據(jù)設(shè)備的養(yǎng)護(hù)和處理情況,甚至可能得到更低的漂移率。在四線傳感器上加裝第五根接地線,減少了電噪聲,尤其是對(duì)交流測(cè)量而言。是理想的鎳鉻鐵合金外殼的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)。
5699 配備直徑為 0.219 英寸的鎳鉻鐵合金外殼,可提供較高的耐用性和較短的響應(yīng)時(shí)間。在外殼內(nèi),傳感元件受到薄層鉑套管的保護(hù),鉑套管為傳感器屏蔽了來自高溫條件下金屬環(huán)境內(nèi)的游離浮動(dòng)金屬離子的污染。污染減少即意味著漂移率降低 - 即使是在高溫條件下的金屬塊校驗(yàn)爐中使用幾小時(shí)后也如此。
如果您不選擇自行校準(zhǔn) 5699,那么 Fluke Calibration 自己的基標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室可為您提供各種各樣的選項(xiàng),包括介于 – 200 °C 到 661 °C 之間的任何溫度范圍的固定點(diǎn)校準(zhǔn)。
在 Fluke Calibration,我們每天都使用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)。我們?cè)O(shè)計(jì)、制造和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì),并且還將其作為標(biāo)準(zhǔn)使用,而且我們深知如何才能制造出性能可靠的儀器。
技術(shù)指標(biāo)
規(guī)格參數(shù) |
|
溫度量程 |
-200℃ 到 670℃ |
標(biāo)稱電阻 RTRW |
25.5 Ω (± 0.5 Ω) |
電流 |
1 mA |
電阻比 |
W(302.9146 K) ≥ 1.11807 W(234.3156 K) ≤ 0.844235 |
漂移率 |
0.1 Ω/°C |
偏移率 |
< 0.008 °C/年 (典型情況下 < 0.003 °C/年) |
重復(fù)性 |
< 1 mK |
在 TPW 處自熱 |
在 1 mA 的電流條件下 < 0.001 °C |
復(fù)現(xiàn)性 |
±0.001 °C 或更佳 |
熱循環(huán)后的 RTPW 漂移 |
< 0.001 °C |
鉑絲直徑 |
0.07 mm (0.003 英寸) |
導(dǎo)線 |
四根傳感器線加接地線 |
套管類型 |
鎳鉻鐵合金 |
套管直徑 |
5.56 mm ± 0.13 mm(0.219 英寸 ± 0.005 英寸) |
套管長(zhǎng)度 |
482 mm(19 英寸) |
絕緣電阻 |
在 661 °C 的條件下 > 100 MΩ 在 20 °C 的條件下 > 1000 MΩ |
型號(hào)和配件
型號(hào) |
描述 |
5699-S |
高性能金屬套管標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì),含木質(zhì)攜帶箱 |