型號(hào):XploRA ONE? |
詳細(xì)描述 |
概要: 作為一款高靈敏度的儀器,XploRA ONETM不僅能提供光譜測(cè)試,而且可以將檢測(cè)后的最終結(jié)果直接呈現(xiàn)給您,其獨(dú)特的設(shè)計(jì)使得拉曼分析變得很簡(jiǎn)單。 XploRA ONETM 的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛,既可用于化學(xué)、生物、藥物、材料等領(lǐng)域的快速檢測(cè),也可用于質(zhì)量控制,例如DLC膜質(zhì)量控制、石墨烯的層數(shù)測(cè)量等,并提供行業(yè)需求的特殊軟件。 特別適合以下應(yīng)用領(lǐng)域: ? QA/QC ? 碳材料 ? 半導(dǎo)體 ? 藥物檢測(cè) ? 原材料檢驗(yàn) ? 公安物證鑒定 XploRA ONE?具有高靈敏度的優(yōu)化設(shè)計(jì)和真共焦性能,可以與光學(xué)顯微系統(tǒng)完美結(jié)合,更可以配備HORIBA獨(dú)有的SWIFT?超快速成像功能。此外,由于其具備極佳的穩(wěn)定性和便捷性,您只需經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的培訓(xùn)和維護(hù)即可確保儀器良好運(yùn)行。
特征: XploRA ONE? — 簡(jiǎn)便智能,且擁有優(yōu)異的性能表現(xiàn)! ? 無(wú)損分析測(cè)試 ? 無(wú)需制備樣品 ? 化學(xué)分析鑒定的最佳幫手 ? 光譜數(shù)據(jù)庫(kù)——為合理的數(shù)據(jù)解析提供保障 ? 檢測(cè)自動(dòng)化——定制化的測(cè)試方法 ? 自動(dòng)校準(zhǔn)——確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確 ? 共聚焦設(shè)計(jì)——優(yōu)于1μm的XY空間分辨率 ? 可升級(jí)SWIFT?超快速共焦拉曼成像 ? 高靈敏度——快速分析,挑戰(zhàn)檢測(cè)極限 ? 一次性全譜采集 ? ParticleFinder——顆粒智能定位分析及拉曼測(cè)試 |
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